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MARSURF XC 2 MIT CD 120 轮廓测量站
精密轮廓测量入门之选 测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求。相对其他方法，快速、简单而经济的 2D 轮廓测量系统受到越来越多的青睐。M
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精密轮廓测量入门之选
测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求。相对其他方法，快速、简单而经济的 2D 轮廓测量系统受到越来越多的青睐。MarSurf XC 2 可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求。同时，它还能提供安全而可靠的结果。
测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求。相对其他方法，快速、简单而经济的 2D 轮廓测量系统受到越来越多的青睐。MarSurf XC 2 可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求。同时，它还能提供安全而可靠的结果。
- 利用相关元件，更换基准元件后可立即对基准元件相关的参数重新计算。
- 密码保护用户访问权限，避免不当使用
- 以多年经验为基础的出色校准流程，包括几何形状校准、测量力校准、弯曲补偿等等
- 稳定、坚固的测头
- 平滑运行，稳定而准确的驱动装置
- 根据各种调整速度自动降低和抬高测杆
- 高定位精度
- 专利测杆固定技术，防碰撞保护
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接触速度（Z 方向）
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0.1 至 1 mm/s
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测杆长度
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175 mm, 350 mm
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测量速度（文本）
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0.2 mm/s 至 4 mm/s
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针尖半径
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25 µm
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扫描长度末尾（X 方向）
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120 mm
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分辨率
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Z 方向，相对探针针头：0.38 µm（350 mm 测杆）/ 0.19 µm（175 mm 测杆）
在 Z 方向，相对于测量系统：0.04 µm |
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扫描长度开始（X 方向）
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0.2 mm
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取样角
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在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至 88°，前缘高至 77°
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定位速度（文本）
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X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s
Z 方向：0.2 至 10 mm/s |
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导块偏差
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< 1 µm（超过 120 mm）
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测量范围 mm
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（Z 方向）50 mm
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扫描长度（文本）
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0.2 mm 至 120 mm
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测量力 (N)
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1 mN 至 120 mN
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