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MARSURF XC 20 MIT PCV 200 轮廓测量站
轮廓测量的国际基准 MarSurf XC 20 被公认为轮廓评估的终极产品。开始于 30 年前的 Konturograph 产品 - 由驱动装置和 X-/Y-记录仪构成 #96 现已通过一流的技术发展为顶级质量的轮廓测量系统
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轮廓测量的国际基准
MarSurf XC 20 被公认为轮廓评估的终极产品。开始于 30 年前的 Konturograph 产品 - 由驱动装置和 X-/Y-记录仪构成 #96 现已通过一流的技术发展为顶级质量的轮廓测量系统。微调的设备配置可提供卓越的性能标准。驱动装置和测量立柱通过可靠的测量和评估软件进行控制和定位。
MarSurf XC 20 被公认为轮廓评估的终极产品。开始于 30 年前的 Konturograph 产品 - 由驱动装置和 X-/Y-记录仪构成 #96 现已通过一流的技术发展为顶级质量的轮廓测量系统。微调的设备配置可提供卓越的性能标准。驱动装置和测量立柱通过可靠的测量和评估软件进行控制和定位。
- 可以显示用户提示
- 交互控制元素支持评估和自动例行程序
- 使用双探针测头测量上下轮廓；也可对两个轮廓进行相对评估
- 剖面图像，可评估各剖面的不同参数
- 可对孔或陡峭对象等障碍进行分段测量
- 支持导入和导出 dxf 文件以对比设定点/实际值
- PCV 200 驱动装置采用专利的测杆安装方式，无需工具即可完成可重复性测杆更换
- 专利测头系统，提高测量站灵活性
- 手动可变扫描力，同样提高灵活性
- 使用直线和圆弧合成标称轮廓
- 方便比较标称和实际轮廓 可通过轮廓内的描述选择不同的公差
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接触速度（Z 方向）
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0.1 至 1 mm/s
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测杆长度
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175 mm, 350 mm
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测量速度（文本）
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0.2 mm/s 至 4 mm/s
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针尖半径
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25 µm
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扫描长度末尾（X 方向）
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200 mm
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分辨率
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Z 方向，相对探针针头：0.38 µm（350 mm 测杆）/ 0.19 µm（175 mm 测杆）
在 Z 方向，相对于测量系统：0.04 µm |
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扫描长度开始（X 方向）
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0.2 mm
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取样角
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在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至 88°，前缘高至 77°
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定位速度（文本）
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X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s
Z 方向：0.2 至 10 mm/s |
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导块偏差
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< 1 µm（200 mm 以上）
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测量范围 mm
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（Z 方向）50 mm
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扫描长度（文本）
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0.2 mm 至 200 mm
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测量力 (N)
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1 mN 至 120 mN，以下和以上（可在 MarSurf XC 20 中设置）
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