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MARSURF XR 20 MIT GD 25 粗糙度测量站
MarSurf XR 20，顶级表面度量的完美选项。 该计算机仪器根据国际标准为测量室或生产提供所有常见表面参数和轮廓。强大的 MarSurf XR 20 将数十年的表面度量经验与创新技术、方便阅读的
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MarSurf XR 20，顶级表面度量的完美选项。
该计算机仪器根据国际标准为测量室或生产提供所有常见表面参数和轮廓。强大的 MarSurf XR 20 将数十年的表面度量经验与创新技术、方便阅读的图标和用户友好的操作员协助结合。
该计算机仪器根据国际标准为测量室或生产提供所有常见表面参数和轮廓。强大的 MarSurf XR 20 将数十年的表面度量经验与创新技术、方便阅读的图标和用户友好的操作员协助结合。
- 超过 100 种符合 ISO / JIS、ASME 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓
- 所有表面参数的公差监控和统计
- 快速创建 Quick&Easy 测量程序的 Teach-in 方法
- 全面的测量记录
- 根据标准选择滤波和扫描长度的自动功能
- 通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法（静态/动态）
- 可调维护和校准间隔
- 快速熟悉操作原理的模拟模式
- 多种测量站配置可使用自定义应用
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测量原则
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探针法
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输入
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R 测头，MFW 250 B
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测量范围 mm
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MFW 250: ±25 ?m，±250 ?m，（高达 ±750 ?m）； ±1000 ?英寸，±10,000 ?英寸（高达 ±30,000 ?英寸）
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过滤器符合 ISO/JIS 标准
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ISO 11562 标准高斯滤波，ISO 16610-21/ISO 16610-31 标准滤波
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扫描长度（文本）
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自动；0.56 mm；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm*，
测量至挡块，可变 * 扫描长度取决于驱动装置 |
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采样长度数量符合 ISO/JIS
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1 至 50（默认：5）
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表面参数
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超过 100 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的
表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓 |
